超声检测设备、器件和材料专业术语大全

超声检测设备、器件和材料专业术语大全
 3 超声检测设备、器件和材料
 3.1 超声检测系统 ultrasonic testing system
 由超声检测仪、探头和电缆组成的系统.
 3.2 超声探伤仪 ultrasonic flaw detector
 利用超声波反射或透射原理,以检查工件缺陷的仪器.其主要组成部分有同步电路、发射电路、接收电路、扫描电路、显示电路、电源电路和探头等.按显示方式不同,可分为A型、B型、C型显示等.
 3.3 超声测厚仪 ultrasonic thickness gauge
 根据超声波在材料或被检件中的传播时间或产生共振的原理设计的、用于测量材料或被检件厚度的仪器.
 3.4 超声显微镜 ultrasonic microscope
利用超声辐射工作的一种特殊的显微镜.
3.5 A型显示 A-scope; A-scan
以水平基线(X轴)表示距离或时间,用垂直于基线的偏转(Y轴)表示辐度的一种信息显示方法
3.6 B型显示 B-scope; B-scan
一种能够显示被检件的横截面图像,指示反射体的大致尺寸及其相对位置的超声信息显示方法.
3.7 C型显示 C-scope; C-scan
一种能够显示被检件纵剖面图像的超声信息显示方法.
3.8 D型显示 D-scope; D-scan
对被检件体积内的反射体作立体的图形显示.
3.9 MA型显示 MA-scope; MA-scan
在探头扫查过程中,将所得到的A型显示图形连续叠加的显示.
3.10 发射脉冲 transmitted pulse
为了产生超声波而加到换能器上的电脉冲.
3.11 时基线 time base
A型显示荧光屏中表示时间或距离的水平扫描线.
同义词:扫描线时间轴
3.12 扫描 sweep
电子束横过探伤仪荧光屏所作同一样式的重复移动.
3.13 扫描速度 sweep speed
荧光屏上的横轴与相应声程的比值.
3.14 扫描范围 sweep range
荧光屏时基线上能显示的最大声程.
同义词:时基范围
3.15 延时扫描 delayed sweep
在A型或B型显示中,使时基线的起始部分不显示出来的扫描方法.
3.16 界面触发 interface trigger
以界面信号作为起始点,将该点作为其他时序系统(例如闸门位置)的参照基准.
3.17 时基线展宽 expanded time-base sweep
时基线光点扫描速度的增加,能将被检件厚度或长度范围内选定区域的回波更详细地在超声探伤仪荧光屏上显示出来.
同义词:标尺展宽 scale expansion
3.18 水平线性 horizontal linearity; time or distance linearity
超声探伤荧光屏时间或距离轴上显示的信号与输入接收器的信号(通过校正的时间发生器或来自已知厚度平板的多次回波)成正比关系的程度.
同义词:距离线性; 时基线性
3.19 垂直线性 vertical linearity
超声探伤仪荧光屏上显示的信号幅度与输入接收器的信号幅度成正比关系的程度.
同义词:幅度线性 amplitude linearity
3.20 水平极限 horizontal limit
荧光屏上能够显示的最大水平偏转距离.
3.21 垂直极限 vertical limit
荧光屏上能够显示的反射脉冲的最大幅值.
3.22 动态范围 dynamic range
在增益调节不变时,超声探伤仪荧光屏上能分辨的最大与最小反射面积波高之比.通常以分贝表示.
3.23 脉冲重复频率 pulse repetition frequency
为了产生超声波,每秒内由脉冲发生器激励探头晶片的脉冲次数.
同义词:脉冲重复率 pulse repetition rate
3.24 检测频率 inspection frequency; test frequency
超声检测时所使用的超声波频率.通常为0.4-15MHZ.
同义词:探伤频率
3.25 回波频率 echo frequency
回波在时间轴上进行扩展观察所得到的峰值间隔时间的倒数.
3.26 灵敏度 sensitivity
在超声探伤仪荧光屏上产生可辨指示的最小超声信号的一种量度.
3.27 灵敏度余量 surplus sensitivity
超声探伤系统中,以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之间的差值.
3.28 穿透深度 penetration
超声探伤时,在被检件中能够测出回波信号的最大深度.
3.29 盲区 dead zone
在一定探伤灵敏度下,从探测面到最近可探缺陷在被检件中的深度.盲区由探头、超声探伤仪及被检件的特性确定.
3.30 分辨率 resolution
超声探伤系统能够区分横向、纵向或深度方向相距最近的一定大小的两个相邻缺陷的能力.
3.31 纵向分辨率 longitudinal resolution
沿声束传播方向的分辨率.
3.32 横向分辨率 transverse resolution
在距探头横向的一定距离上,垂直于声束方向的分辨率.
3.33 脉冲调谐 pulse tuning
在某些超声探伤仪上采用的一种控制方法,即通过调整发射脉冲的频谱以使探头和电缆对发射器具有最隹的响应.
3.34 饱和 saturation
输入信号幅度增大而荧光屏上回波信号幅度不增大的一种现象.
3.35 触发/报警状态 trigger/alarm condition
超声仪器发现被检件中有超标检出信号时发出指示的状态.
3.36 触发/报警标准 trigger/alarm level
超声仪器用以区分被检件为合格或不合格的信号幅度差的基准.
3.37 视频显示 video presentation
探头接收到的超声高频信号,经检波放大后形成探伤图形的显示方法.
同义词:检波显示
3.38 射频显示 radio frequency(r-f) display
探头接收到的超声高频信号,被放大后直接进行显示的方法.
同义词:不检波显示
3.39 时标 markers
用电子方法产生的一系列脉冲或其他方式使荧光屏时基线上依次出现的标志信号,用于距离或时间的测定.
3.40 距离刻度 distance marker; time marker
为便于直接指示缺陷位于被检件内的深度、水平距离、声程等而加在探伤仪荧光屏时基线上的等分刻度.
3.41 抑制 reject; suppression
在超声探伤仪中,为了减少或消除低幅度信号(电或材料的噪声),以突出较大信号的一种控制方法.
3.42 闸门 gate
为监控探伤信号或作进一步处理而选定一段时间范围的电子学方法.
3.43 衰减器 attenuator
使信号电压(声压)定量改变的装置.衰减量以分贝表示.
3.44 准直器 collimator
控制超声束的尺寸及方向的装置.
3.45 信噪比 signal-to-noise ratio
超声信号幅度与最大背景噪声幅度之比.通常以分贝表示.
3.46 信号泄漏 cross talk
声或电信号穿过预设隔离层的泄漏现象.
3.47 阻塞 quenching
接收器在接收到发射脉冲或强脉冲信号后的瞬间引起的灵敏度降低或失灵的现象.
3.48 增益 gain
超声探伤仪接收放大器的电压放大量的对数形式.以分贝表示.
3.49 距离幅度校正 distance amplitude correction; swept gain; time variable gain; time corrected gain
用电子学方法改变放大器,使不同深度上的相同反射体能产生同样的回波幅度.
同义词:DAC校正;深度补偿
3.50 距离幅度曲线 distance gain size curve
根据规定的条件,由产生回波的已知反射体的距离D(A)、探伤仪的增益G(V)和反射体的大小S(G)三个参量绘制的一组曲线.实际探伤时,可由测得的缺陷距离和增益值,从此曲线上估算出缺陷的当量尺寸.
同义词:DGS曲线;AVG曲线
3.51 面积幅度曲线 area amplitude response curve
表示在垂直入射时,传声介质中离探头等距但面积不同的平面反射体回波幅度变化的曲线.
3.52 耦合 coupling
在探头和被检件之间起传导声波的作用.
3.53 耦合剂 couplant
施加于探头和探测面之间,以改善超声能量传递的液态介质.
同义词:耦合介质 coupling medium
3.54 喷液器 bubbler
利用喷射液流使超声束与被检件耦合的装置.
3.55 施利伦系统 Schlieren system
一种用于可视显示超声束在透明介质中传播情况的光学系统.
3.56 试块 test block
用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件.
3.57 标准试块 standard tast block
材质、形状和尺寸均经主管机关或权威机构检定的试块.用于对超声检测装置或系统的性能测试及灵敏度调整.
同义词:校准试块 calibration block
3.58 对比试块 reference block
调整超声检测系统灵敏度或比较缺陷大小的试块.一般采用与被检材料特性相似的材料制成.
同义词:参考试块
3.59 压电效应 piezoelectric effect
某些材料,在被施加作用力时,能使其表面上产生电荷积累且可逆的效应,称为压电效应.
3.60 磁致伸缩效应 magnetostrictive effect
某些材料,在磁场中产生形变且可逆的效应,称为磁致伸缩效应.
3.61 压电材料 piezoelectric material
具有压电效应的材料,如石英、钛酸钡、锆钛酸铅等.
3.62 探头 probe; search unit
发射或接收(或既发射又接收)超声能量的电声转换器件.该器件一般由商标、插头、外壳、背衬、压电元件、保护膜或楔块组成.
同义词:换能器 transducer
3.63 压电换能器 piezoelectric transducer
以压电效应的形式,将电信号和机械振动信号作可逆转换的换能器.
3.64 电磁声换能器 electro-magnetic acoustic transducer
由金属表面电磁感应产生的涡流和金属内恒定磁场之间相互作用而产生的洛仑兹力进行电能与机械能的转换,发射或接收超声波的换能器.
3.65 磁致伸缩换能器 magnetostrictive transducer
以磁致伸缩效应的形式,将电能和机械能可逆转换的换能器.
3.66 直探头 normal probe
进行垂直探伤用的探头,主要用于纵波探伤.
同义词:直射声束探头 straight beam probe
3.67 斜探头 angle probe
进行斜射探伤用的探头,主要用于横波探伤.
同义词:斜射声束探头 angle beam probe
3.68 纵波探头 longitudinal wave probe
发射和接收纵波的探头.
3.69 横波探头 shear wave probe
发射和接收横波的探头,如Y切石英探头.
3.70 表面波探头 surface wave probe
发射和接收表面波的探头,用于表面波探伤.
3.71 聚焦探头 focusing probe
能使超声束聚焦的探头.
3.72 可变角探头 variable angle probe
能够连续改变入射角的探头.
3.73 液浸探头 immersion probe
用于液浸法探伤的探头.
3.74 水柱耦合探头 water column probe
进行水柱耦合法探伤用的探头.
同义词:局部水浸探头
3.75 轮式探头 wheel type probe; wheel search unit
一个或多个压电元件装在一注满液体的活动轮胎中,超声束通过轮胎的滚动接触面与探测面相耦合的一种探头.
3.76 单晶片探头 single crystal probe
用单个晶片制成的探头,可兼作发射和接收.
3.77 双晶片探头 double crystal probe; twin probe T-R probe; S-E probe
装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器.
同义词:联合双探头: 分割式探头
3.78 硬膜探头 hard-faced probe
为了减小磨损,用硬质材料,如钢或陶瓷制成保护膜的探头.
3.79 软膜探头 soft-faced probe
采用弹性膜做保护膜,晶片与胶片之间的空隙充以液态耦合剂的探头.
3.80 晶片 crystal
超声探头中的电声转换元件.主要采用石英、钛酸钡和锆钛酸铅等压电材料制成,其形状有平面、曲面等.
3.81 晶片负载 crystal loading
由晶片向与之作声耦合的介质传递的单位面积的机械功.
3.82 机电耦合系数 electro-mechanical coupling factor
压电晶片机械能和电能之间相互转换效率(耦合强弱)的参数.
3.83 压电应变常数 piezoelectric strain constant
单位电场强度产生应变的大小.
3.84 压电电压常数 piezoelectric voltage constant
单位压力产生开路电场强度的大小.
3.85 压电应力常数 piezoelectric stress constant
单位电场强度产生应力的大小.
3.86 压电劲度常数 piezoelectric stiffness constant
单位应变产生电场强度的大小.
3.87 介电常数 dielectric constant
材料的介电特性.介电常数与压电晶片附上电极后的电容有关,也就是与压电晶片呈现的电气阻抗有关.
3.88 频率常数 frequency constant
晶片共振频率与其厚度的乘积.
3.89 品质因数 quality factor
表示因材料内部摩擦而产生的机械损耗大小.品质因数越大,机械损耗越小.
3.90 居里点 Curie point
对压电材料而言,是指铁电相和顺电相之间转变的温度.
同义词:居里温度 Curie temperature
3.91 电位移 electric displacement
电场强度乘以介质常数.
3.92 保护膜 diaphragm
为了保护晶片而贴在晶片前面的薄片.
3.93 斜楔 wedge
为了使超声波倾斜入射于探测面而附加在晶片前面的楔状物体.
3.94 声透镜 acoustical lens
装配在晶片前面,使声束聚焦的器件.
3.95 接触块 contact shoe; probe shoe
为了保护探头,或为了适应特殊探测面以提高发射和接收效率而附在探头前面的块状物体.
3.96 延迟块 delay block
为使超声脉冲持续时间等影响落在延迟过程中而附加在探头晶片前的透声材料,如双晶片直探头前的块状物体.
3.97 隔声层 sound insulating layer
双晶片探头中用以使两者在声路上分割开来的吸声性强的隔片.
3.98 探头背衬 probe backing
在压电晶片幅射有用超声的另一面所粘接的用强吸声和强阻尼材料制作的块状物体.
3.99 探头阻尼 probe damping
用电或机械方法减小探头相继各周的振动幅度,以限制探头受脉冲激励所产生的信号持续时间.
3.100 阻尼块 damping block
与晶片或楔块组合具有高阻尼效率的块状物体.
3.101 标称角度 nominal angle
探头上标志的入射角或钢中折射角.
3.102 K值 K value
斜探头折射角的正切值.
3.103 标称频率 nominal frequency
探头标志频率.
3.104 工作频率 operating frequency
探头发生的超声脉冲频谱的中心频率.
3.105 探头等效阻抗 probe equivalent impedance
探头有一定声负载条件下,输入端电阻抗的绝对值.
3.106 偏向角 angle of squint
探头侧边与声束轴线在探测面上投影的夹角,对于斜探头,偏向角通常与横向偏差有关.
3.107 屋顶角 roof angle
斜探头中为在探测面上声束投影和晶片法线之间的夹角;直探头中为声束轴线和晶片法线之间的夹角.
3.108 焦距 focal distance
聚焦探头声束实测焦点到探头表面的距离.
3.109 焦点长度 focus length
在焦点前后同焦点声压比差一定分贝数的长度.
3.110 焦点宽度 focus width
聚焦直探头焦点处的声束宽度或聚集斜探头在焦点处沿水平方向的宽度.
3.111 会聚点 convergence point
双晶片探头发射和接收声场轴线的交点.
同义词：交叉点
3.112 延迟声程 delay path
晶片至探测面的声程.
3.113 探头入射点 probe index
横波探头或表面波探头上发射声束轴线通过探头底面的点.
3.114 前沿距离 front distance
从斜探头的入射点到探头底面前端的距离.
4 超声检测方法
4.1 脉冲反射法 pulse echo method
将超声脉冲发射到被检件内,根据反射波的情况来检测缺陷、材质等的方法.
同义词:脉冲回波法
4.2 穿透法 through transmission technique; transmission technique
超声波由一个探头发射,并由在被检件相对一面的另一个探头接收,根据超声波的穿透程度来进行探伤的方法.
4.3 共振法 resonance method
改变连续超声波的频率以确定被检件的共振特性,从而鉴别被检件的某些性质,例如厚度、刚性或粘接质量的一种方法.
4.4 纵波法 longitudinal wave technique
使用纵波进行探伤的方法.
4.5 横波法 shear wave technique
使用横波进行探伤的方法
4.6 表面波法 surface wave technique
使用表面波进行探伤的方法.这种方法主要用于表面光滑的材料或被检件.
4.7 板波法 plate wave technique
使用板波进行探伤的方法.这种方法主要用于薄板的探伤.
同义词:兰姆波法
4.8 垂直法 normal beam method; straight beam method
使用与探测面相垂直的超声束进行探伤的方法.
4.9 斜射法 angle beam method
使用与探测面成斜角的超声束进行探伤的方法.
4.10 声阻法 acoustic impedance method
利用被检件的振动特性,即被检件对探头所呈现的声阻抗的变化来进行检测的方法.
4.11 直接接触法 direct contact method
探头与探测面直接接触的探伤方法.
4.12 接触法 contact inspection
仅通过一层极薄的耦合剂使探头与探测面接触的探伤方法.
4.13 液浸法 immersion testing
将探头和被检件浸入(至少为局部浸入)液体(通常为水)中,探头与探测面不直接接触,以液体(水)为耦合介质的探伤方法.
4.14 水柱耦合法 water column coupling method
将被检件的一部分浸在水中或被检件与探头之间保持水层而进行探伤的方法.
同义词:局部水浸法
4.15 一次波法 single traverse technique
在斜射探伤中,超声束不经被检件底面反射而直接指向缺陷的方法.
同义词: 直射法 direct scan
4.16 二次波法 double traverse technique
在斜射探伤中,超声束在被检件底面只反射一次而指向缺陷的方法.
同义词: 一次反射法 single bounce technique
4.17 三次波法 triple traverse technique
在斜射探伤中,超声束在被检件底面和探测面各反射一次后指向缺陷的方法.
nbsp; 同义词: 二次反射法 double bounce technique
4.18 四次波法 quadruple traverse technique
在斜射探伤法中,超声束在被检件底面和探测面相继反射三次后指向缺陷的方法.
同义词: 三次反射法 triple bounce technique
4.19 多次反射法 multiple echo method
利用底面的多次反射波检测材料中的超声衰减、缺陷及被检件厚度的方法.
4.20 阴影法 shadow technique
利用障碍物对超声波产生的阴影(声影)检出被检件中缺陷的方法.
4.21 单探头法 single probe technique
用同一个探头即发射又接收超声波的方法.
4.22 双探头法 double probe technique
用两个探头分别发射和接收超声波的探伤方法.
4.23 多探头法 multiple probe technique
使两个以上的探头进行探伤的方法.
4.24 一发一收法 pitch and catch technique
使用两个分离探头,其中一个用来将超声能量射入被检件,另一个置于能接收到缺陷反射波的位置的超声检测方法.
4.25 双发双收法 double transceiver technique
同时使用两个探头,每个探头分别兼作发射器和接收器的超声探伤方法.
4.26 初探 pre-test
在超声探伤中,预先用高于规定探伤灵敏度进行的探伤.
4.27 复探 final test
在超声探伤中,对初探中发现的缺陷,用规定灵敏度仔细进行操作,以确定其性质、位置、大小和形状等.
4.28 手动检测 manual testing
探头由手工操作,信号通过探伤人员观察和评价的检测方法.
4.29 机械化检测 remote controlled testing
检测的实施、缺陷的信号观察及评价全部或部分由机械装置完成的检测方法.
4.30 自动检测 automatic testing
用电气、油压和气压等能量进行探头的机械扫查并能自动记录探伤结果的检测方法.
4.31 探测面 test surface
在超声检测时,超声能量进入或离开被检件时所通过的表面.
同义词:探伤面
4.32 界面 interface boundary
声阻抗不同的两种介质的分界面.
4.33 底面 bottom surface
在垂直探伤中,与探测面相对的最远的被检件表面.
同义词:背面 back surface; back wall
4.34 侧面 side wall
在垂直探伤中,被检件除探测面和底面之外的面.
4.35 端面 edge
在斜射探伤和板波探伤中,指能反射超声波的板厚方向的倾面,相当于垂直探伤中的底面.
4.36 缺陷有效反射面 effective reflection surface of flaw
声束射及缺陷时,能被沿原路径反射回来的缺陷表面.
4.37 回波 echo
从反射体上反射回来的超声信号.
同义词:反射波 reflected wave
4.38 回波指示 echo indication
超声探伤仪上所显示的回波.
4.39 界面回波 interface echo
由声阻抗不同的两种介质的交界面产生的回波.
同义词: 界面波
4.40 边界一次回波 boundary echo(first)
来自被检件任何边界的反射,以可能最短的声程返回到探头所在表面的回波.此术语仅限于横波和表面波探伤时使用.
4.41 底面回波 bottom echo
由被检件底面反射回来的波.
同义词:背面回波 back reflection; back-wall echo
4.42 参考回波 control echo
从一个恒定的反射面,例如底面反射回来的参考信号.
4.43 穿透显示 display through
在穿透法中所显示的接收到的声信号.
4.44 干扰回波 parasitic echo
妨碍探伤结果评定的各种回波总称为干扰回波.其中包括假反射波,楔内反射波以及因仪器的噪声、外界干扰等产生的反射波等.
4.45 形状回波 form echo
因被检件的几何形状引起的回波.
4.46 棱边回波 edge echo
来自边缘的形状回波.
同义词: 棱边波
4.47 多次回波 multiple reflections
超声波在两个不同的界面之间相继多次往复所形成的回波.
同义词:多次反射 multiple reflections
4.48 多次底面反射 multiple back reflections
来自被检件底面的相继多次反射.
4.49 底面反射损失 loss of back reflection
被检件底面反射波幅度的减弱或消失.
同义词: 背面反射损失
4.50 迟到回波 delayed echo
来自同一反射体的回波,因所经的路径不同或在途中发生波型转换而迟后到达的回波.
4.51 表面回波 surface echo
从被检件表面反射回来的波.
4.52 幻象回波 phantom echo
由于超声探伤仪重复频率过高,在透声性良好的材料中所出现的非真实回波(虚幻波).
4.53 反常回波 ghost echo
由于脉冲重复频率和时基线频率匹配组合失当而形成的回波显示.
4.54 草状回波 grass
由于超声波在材料的晶界或小反射体上反射而形成的空间随机信号.
同义词: 林状回波
4.55 楔内回波 spurious echo
声束斜入至楔底时,有一部分被反射,由于这部分声能在楔内的杂乱反射而形成在荧光屏上出现始脉冲后的回波.
4.56 缺陷回波 flaw echo
由被检件内部或表面缺陷引起的回波.
同义词: 缺陷反射波; 伤波
4.57 密集回波 cluster echo
为数甚多且彼此间距甚小的一群回波.
4.58 游动回波 traveling echo
在正常探伤灵敏度下,随着探头的移动而在荧光屏上有明显游动的缺陷回波,称为游动回波.
4.59 噪声 noise
对有用信号的接收、解释或处理起干扰作用的任何无用的(电或声)信号.
4.60 表面噪声 surface noise
由于表面凹凸不平,在耦合层内的超声反射形成的不希望有的信号,通常显示在离发射脉冲很近的距离上.
4.61 电子噪声 electronic noise
由探伤仪放大器中电子干扰和热噪声引起的随时间而迅速变化的无用的无规则信号.
4.62 反射体 reflector
超声束遇到声阻抗改变时产生反射的界面,按其形状有球面、圆柱形、圆盘形和槽形等.
4.63 人工缺陷 artificial defect
在探伤过程中,为了调整或校准探伤系统的灵敏度等,用各种方法在试块或被检件上加工制成的人工伤,如平底孔、横孔、槽等.
4.64 平底孔 flat-bottomed hole
平底的圆柱形盲孔.其圆平面用作为超声反射体.
4.65 横孔 cross-drilled hole
平行于探测面并与所置的探头成正交方向的圆柱形钻孔.其圆柱面形成超声反射体.
4.66 探测范围 test range
按比例调整后荧光屏整个时间轴(满刻度)所代表的距离范围.
4.67 探伤灵敏度 working sensitivity
在规定条件(频率、增益、抑制等)下能探出最小缺陷的能力.
4.68 扫查灵敏度 scanning sensitivity
为防止漏检,在初探中所采用的较规定灵敏度高的灵敏度.
4.69 规定灵敏度 specified sensitivity
根据产品的技术要求(规程、说明书等)确定的灵敏度.
4.70 探伤图形 pattern
在超声探伤仪的荧光屏或记录装置上显示或记录探伤结果的图形.
4.71 回波高度 echo height
探伤图形上的反射脉冲高度,用分贝值或标准刻度板上的百分数表示.
同义词:回波幅度 echo amplitude
4.72 回波宽度 echo width
从校正的超声探伤仪荧光屏水平扫描线刻度上读出的回波宽度.
4.73 始脉冲 initial pulse
发射脉冲在荧光屏上的显示.
4.74 始波宽度 inital pulse width
始脉冲起始点(前沿)和结束点(后沿)之间的间距.
同义词:始脉冲宽度
4.75 直射声束 straight beam
垂直于探测面传播的超声束.
4.76 斜射声束 angle beam
以一定入射角和一定折射角在被检件内传播的超声束.
4.77 聚焦声束 focused beam
在特定距离上,声能量聚集的声束.
4.78 声束入射点 beam index
入射声束轴线与被检件表面的交点.
4.79 跨距点 skip point
横波探伤中,探测面上和底面上与声束轴线相交的反射点.
4.80 透射点 transmission point
与超声能量进入被检件的瞬间相一致的显示在时基线上的一点.
4.81 耦合损失 coupling losses
由于超声波通过耦合剂而导致超声波幅度的降低.
4.82 传输修正 transfer correction
因被检件与校准试块的声能透入量不同而对超声仪器放大量进行的修正,包括表面声能损失修正(表面补偿)和衰减补偿.
同义词:传输补偿
4.83 扫查 scanning
在进行超声探伤时,探测面上的探头与被检件的相对移动.
4.84 扫查区域 scanning zone
探头与探测面相对移动的范围.
4.85 扫查速度 scanning speed
探头与探测面相对移动的速度.
4.86 扫查轨迹 scanning path
探头在探测面上移动的轨迹.
4.87 扫查间距 scan pitch
当探头在扫查区移动时,扫查线之间的间距或螺距.
4.88 间接扫查 indirect scan
利用被检件的一个表面或几个表面的反射,使超声束对准缺陷的扫查方法.
4.89 间隙扫查 gap scanning
探头与探测面之间通过少量液体耦合的扫查方法.
4.90 接触扫查 contact scanning
探头与被检件在接触状态下进行的扫查方法.
4.91 全面扫查 all-round scan
探头在整个探测面上无一遗漏地循序移动(相邻扫查线的间距不大于探头的直径)的扫查方法.
4.92 局部扫查 local scan
在整个探测面上探头按规定要求有间距地规则移动(相邻扫查线的间距一般大于探头的直径)的扫查方法.
4.93 线扫查 linear scan
探头在平板类被检件的探测面上以一定的间距作直线移动或斜直线移动的扫查方法.
4.94 格子线扫查 scan on grid lines
探头按预先划好的格子线先循一个方向作直线移动,然后再转移90°,沿与原方向垂直的方向作直线移动的扫查方法.
4.95 点扫查 spot scan
探头不作移动,仅作跳跃式地与被检件指定点接触,或者不作定点(等间距)接触,而是根据需要在适当部位上抽检的扫查方法.
4.96 前后扫查 travering scan; depth scan
在横波探伤中,探头在焊缝垂直的方向前后移动的扫查方法.
4.97 左右扫查 lateral scan
在横波探伤中,探头与焊缝距离一定,将探头平行于焊缝移动进行扫查的方法。
4.98 斜平行扫查 lateral scan with oblique angle
在横波探伤中,使用一个探头斜对着焊缝,平行于焊缝移动探头的扫查方法.
4.99 环绕扫查 swivel scan
被检件送进的同时,探头垂直于被检件表面,沿探测面旋转的扫查方法.
4.100 转动扫查 rotational scan
在横波探伤中,以探头的入射点为中心,转动探头,以改变声束相对焊缝的方向的扫查方法.
4.101 串列扫查 tandem scan
厚板焊缝等的横波探伤中,在焊缝的一侧前后排列两个探头,一发一收进行扫查的方法.
4.102 焊缝上扫查 scanning directly on the weld
在横波探伤中,对铲平增强部分的焊缝,为检查横向裂纹等缺陷,把探头置于焊缝上,使超声束向着焊缝的方向,在焊缝上移动探头的扫查方法.
4.103 交叉扫查 straddle scan
在焊缝的每一侧各放置一个探头,一发一收来探测对接焊缝横向缺陷的扫查方法.
同义词: 跨过扫查
4.104 平行扫查 parallel scan
探头直接置于探测面部位的表面,移动方向与该部位轴线并行,主要用于发现横向缺陷.
4.105 锯齿扫查 zigzag scan
在焊缝横波探伤中,探头一边前后移动,一边稍微平行于焊缝移动成锯齿形轨迹的扫查方法.
4.106 声程 beam path; path length
在探伤中,声束单向通过的路程.
4.107 跨距 skip distance
在斜射探伤中,在探测面上从声波入射点到声波经底面反射回至该探测面的一点之间的水平距离.
4.108 定位 location
利用已知尺寸的试块(或工件)作为反射体来调节探伤仪的时间轴,然后根据反射波出现在时间轴上的位置来确定缺陷的位置.
4.109 水平定位 horizontal location
调节时间扫描线与水平距离成相应的比例关系进行的定位.
4.110 垂直定位 vertical location
调节时间扫描线与深度距离成相应的比例关系进行的定位.
4.111 声程定位 beam path location
调节时间扫描线与声程距离成相应的比例关系进行的定位.
4.112 缺陷前沿距离 front distance of flaw
在探测面上斜探头的前端到缺陷的距离.
4.113 水平距离 probe distance
在探测面上斜探头入射点到缺陷的距离.
同义词: 探头距离
4.114 探头-焊缝距离 probe to weld distance
在探测面上斜探头入射点到焊缝中心的水平距离.
4.115 水程 water path; water distance
在液浸法或水柱耦合法探伤中,从探头表面到探测面声束入射点之间的距离.
同义词: 水层距离
4.116 深度位置 depth position
反射体至探测面的距离.
4.117 深度范围 depth extension
垂直于探测面反射体在深度方向的范围.
4.118 定量法 sizing technique
根据缺陷构成的超声响应评估缺陷尺寸的方法.
4.119 当量 equivalent
用于缺陷比较的某种类型的人工缺陷的大小.
4.120 当量法 equivalent method
在一定的探测条件下,用某种规则的人工缺陷反射体尺寸来表征被检件中实际缺陷相对尺寸的一种定量方法.
4.121 平底孔当量 flat-bottomed hole equivalent
指相同距离上的缺陷给出的超声指示与某一尺寸平底孔的超声指示相当.
4.122 对比试块法 reference block method
用对比试块已知反射体显示与被检件所获显示相比较的评价方法.
4.123 基准线法 reference line method
用特定声程、几何形状及尺寸的反射体制作参考曲线来评价被检件所获显示的评价方法.
同义词:参考线法
4.124 半波高度法 half-value method
在同一探测条件下,对探头从获得最大反射回波的位置,移动至回波高度为原来波的半值来评价反射体尺寸的方法.
4.125 缺陷指示长度 indicated defect length
将超声探伤估定缺陷的始端和终端位置投影在探伤材料表面上并连接其两点间的长度.
4.126 缺陷指示面积 indicated defect area
缺陷指示长度与宽度或高度的乘积.
4.127 声全息术 acoustic holography
利用声波的特性实现的全息成像技术.